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手机测试标准-沃达丰52寿命测试(译文).doc
时间：2022-12-20 14:20:01 下载该word文档
5测试指导说明
5.2常规寿命测试
测试编号
描述
测试：粉尘（5.2.1）
备注测试参照
GE01(B
EN60069-2-6
目的：模拟客户在口常各种环境中使用效果，确保手机在寿命周期中8
功能都正常
针对器件：显示屏，声学器件（受话器、扬声器），键盘样机数量：3
字以下情况需要增加测试:量产器件存在第二供应商，如结构件（包括显示屏），键盘。不同的供应商做出来的东四会有不同公差，实验结果也会不同
Adetailedtestmatrixfbrmultiplesourcescanbefoundinthetesttemplate.
多供应商物料，具体测试见测试模板测试设备要求：
此实验应在一个特别的粉尘密封箱中进行，手机与手机距离50mm,手机与密封箱任何一侧保持至少100mm箱体环境温度21-25E,湿度40%-50%
粉尘使用细密的滑石粉或者直径是40.60um的粉尘颗粒（实验室文档中未出现温湿度规定）测试方法：
手机关机状态，带SIM卡，带电池，测试过程中未包装状态（不带护膜）
手机应置于箱体中心，充分暴露在粉尘中，每轮测试粉尘量必须满足
2kg重量
测试步骤：
1、手机暴露在粉尘喷头中4小时
2、一轮实验做完拿出手机，用刷了清洁（roughly）
3、清洁后，做1万次按键测试，按键测试参考ME01（B）按键寿
命一需检查按键寿命测试结果
4、再次放置粉尘箱4小时
5、取出设备，做清洁处理，检杳功能。用以下标准评估结果。
测试结果评估：
手机电气功能不能受到粉尘渗透的影响，按键及任何可移动部件（滑盖等）功能正常（nostick）
TW与LCD|u］必须无任何粉尘可见。
测试编号GE02（B）
以下功能必须检查：手机开机入网，手机正常功能测试，重点关注显
示，音效，马达，按键
测试样板：
样板GE01_B_粉尘
suppliedbyVodafonehastobeusedtodocumentthetestresults.
描述备注测试：腐蚀（5.2.2）
测试参照
EN60068-2-52
目的：测试元器件在腐蚀环境下是否功能正常针对器件：
接匚I（电池接匚I、B2B?接口等）接触区域（天线接触区域，弹片接触等）
样机数量:测试设备要求：
测试设备由不受盐雾影响的材料制造
测试方法：
手机放置在密封箱，暴露在稳定连续的盐雾中。
盐雾是由5%的NaCl溶液生成，PH值在6.5-7.2（20±2°C）手机在20±2°C的盐雾中